Hayashi K., Matsushita T., Otabe E.S., Kiuchi M.(kiuchi@cse.kyutech.ac.jp), Sato K., Fujikami J.
Kiuchi M., Himeda Y., Sato K., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Fujikami J.*2 Hayashi K.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, overpressure processing, Jc/B curves, temperature dependence, angular dependence, n-value, irreversibility fields, current-voltage characteristics, magnetic field dependence, anisotropy, numerical analysis, experimental results, comparison, critical caracteristics, fabrication, magnetic properties
Fukumoto Y., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp)
Muroga T., Kiss T., Shiohara Y., Watanabe T., Watanabe T., Otabe E.S., Kiuchi M., Fukumoto Y., Yamada Y., Miyata S., Yamauchi K., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Ibi A.
Kiuchi M., Wada H., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Yasuda T., Uchiyama T., Iguchi I.
Muroga T., Shiohara Y., Kiuchi M., Yamada Y., Miyata S., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Ibi A., Kimura K.
Otabe E.S., Kiuchi M., Himeda Y., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp)
Matsushita T., Otabe E.S.(otabe@cse.kyutech.ac.jp), Hasan M.N.
Ключевые слова: HTS, REBCO, bulk, irreversibility fields, measurement technique, Jc/B curves, experimental results, critical caracteristics, magnetic properties
Matsushita T., Kiuchi M., Himeda Y., Fujikami J., Hayashi K.(hayashi-kazuhiko@sei.co.jp)
Matsushita T., Otabe E.S., Kiuchi M.(kiuchi@cse.kyutech.ac.jp), Himeda Y., Fukumoto Y.
Matsushita T., Otabe E.S., Funaki K., Kajikawa K.(kajikawa@sc.kyushu-u.ac.jp), Hayashi T.
Ключевые слова: HTS, tapes, ac losses, aspect ratios, numerical analysis
Matsushita T., Kiuchi M., Nadami T.(nadami@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Otabe E.S.(otabe@cse.kyutech.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, measurement technique, critical current density, critical caracteristics, width, harmonics impact
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Inoue M., Matsushita T., Kakimoto K., Otabe E.S., Kiuchi M., Fukumoto Y.(fukumoto@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Sawa H.
Matsushita T., Otabe E.S., Kiuchi M.(kiuchi@cse.kyutech.ac.jp), Kitaguchi H., Kumakura H., Okada M., Tanaka K., Yamauchi K., Kurokawa T.
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Inoue M., Kuga T., Matsushita T., Kakimoto K., Otabe E.S., Yamauchi K.(yamauchi@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Kiuchi M.
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Shiohara Y., Kuga T., Ishimaru M., Matsushita T., Kakimoto K., Inoue M.(inoue@ees.kyushu-u.ac.jp)
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Saitoh T., Shiohara Y., Kiss T.(kiss@sc.kyushu-u.ac.jp), Inoue M., Kuga T., Ishimaru M., Egashira S., Irie S., Ohta T., Imamura K., Yasunaga M., Matsushita T., Kakimoto K.
Iijima Y., Awaji S., Watanabe K., Takeo M., Kiss T., Saitoh T., Shiohara Y., Inoue M., Kuga T., Ishimaru M., Egashira S., Matsushita T., Kakimoto K.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.